DimensionE-DGE型原子力显微镜
[综合管理科]物理与电子科学学院 2018年05月01日
 

设备名称: dimensione-dge型原子力显微镜

设备编号:20142746

存放地点:第一实验楼  南107  低维结构物理实验室(二)

使用方向:常用于测量薄膜材料表面形貌、粗糙度、峰高(skewness)、偏态kurtosis)、粒径分布等等。

设备概述:dimensione-dge型原子力显微镜(atomic force microscope, 简称afm) 以其超高的分辨率及图像表征技术在表面分析、微探测及纳米技术等方面具有独特的优势,帮助人们在材料科学、化学、生命科学等学科领域取得了诸多研究成果。afm不仅具有倍优于光学衍射极限的纳米级高分辨率(横向分辨率达到,纵向分辨率达到1nm),且既可以观察导体,也可以观察非导体,弥补了扫描隧道显微镜(stm)只能观测导体和半导体的不足。随着 afm 技术方法的不断发展与完善,以及不同学科领域的学者对认识的加深,afm 的应用范围必将日渐扩大,对人类科学的发展做出更大的贡献